多功能超聲波測厚儀CMX2-DL/CMX3-DL
美國DAKOTA公司CMX2-DL/CMX3-DL多功能超聲波測厚儀,帶A/B掃描功能,可測量材料的厚度,穿透涂層測量材料厚度,煙臺超聲波測厚儀型號,也可以測量涂層的厚度。用戶可根據需求選擇不同的功能配置,以獲得更好的性價比。CMX2-DL為灰度顯示屏,CMX3-DL彩屏顯示。
儀器特點
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100MHz FPGA時序電路設計
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可選彩色和灰度顯示屏
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A/B掃描
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手動調節增益和自動增益控制(AGC),范圍:110dB
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自動時間相關增益(TDG)
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多種測量模式
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脈沖-回波(P-E)模式:測量材料厚度
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脈沖-回波涂層(PECT)模式:同時測量材料和涂層厚度
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脈沖-回波溫度補償(PETP)模式:測量材料厚度
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回波-回波(E-E)模式:穿過涂層測量材料厚度
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回波-回波驗證(E-EV)模式:穿過涂層測量材料厚度
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測量涂層(CT)模式:只測量涂層厚度
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可接雙晶探頭和單晶探頭(包括延遲塊探頭、接觸式探頭、筆形探頭)
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USB Type-C數據接口
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內置4GB SD存儲卡
技術參數
測量
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脈沖-回波(P-E)模式測量范圍:0.63mm~30.48m(鋼)
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脈沖-回波涂層(PECT)模式測量范圍:0.63mm~30.48m(鋼),0.0254~2.54mm(涂層)
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脈沖-回波溫度補償(PETP)模式測量范圍:0.63mm~30.48m(鋼)
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回波-回波(E-E)模式測量范圍:2.54~152.4mm(鋼,穿過涂層測量,隨涂層厚度的不同,測量范圍也會變化)
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回波-回波驗證(E-EV)模式測量范圍:2.54~102mm(鋼,超聲波測厚儀原理圖,穿過涂層測量,隨涂層厚度的不同,測量范圍也會變化)
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測量涂層(CT)模式測量范圍:0.0127~2.54mm(涂層)
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分辨率:0.01mm
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聲速范圍:309.88~18542m/s
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單位:公制或英制
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校準:一點和兩點校準方式
顯示
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CMX2-DL顯示屏:1/8英寸VGA灰色顯示,超聲波測厚儀應用,240x160象素?梢晠^62x45.7mm,EL背光
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CMX3-DL顯示屏:1/4英寸AMOLED彩色顯示屏,320x240象素
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A-掃描方式:檢波+/-(缺陷視場),數字式超聲波測厚儀,RF(全波視場)。刷新頻率25Hz/60Hz(彩色顯示屏)?v向和橫向視圖(彩色顯示屏)
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B-掃描方式:基于時間的橫截面視圖。顯示速度為每秒10到200個讀數
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大數字方式:標準厚度顯示,數字高度17.78mm(CMX2-DL)/14.35mm(CMX3-DL)
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厚度條形掃描:速度33Hz,在B-掃描和大數字顯示中可見
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穩定度指示:表示測量值的穩定性
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功能狀態指示:顯示當前激活的功能
超聲波參數
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測量模式:P-E、PECT、PETP、E-E、E-EV、CT
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脈沖:可調方波脈沖發生器
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接收:根據選擇模式在110dB范圍內采用手動或AGC增益控制,阻抗50~1500Ω可調
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計時:單次8位100MHz超低功耗數字化儀的精確TCXO計時
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脈沖重復頻率:250Hz
探頭
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頻率范圍:1~20MHz
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雙晶探頭和單晶探頭(延遲塊、接觸式、筆式)
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LEMO接口,超聲波測厚儀哪個好,1.2米探頭線
存儲
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容量:內置4GB SD卡
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數據結構:網格(字母數字)和順序(自動識別)
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截屏功能:位圖圖形捕獲,超聲波測厚儀技術指標,用于快速記錄
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數據輸出:通過USB Type-C連接的計算機
功能
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設置:64個用戶定義設置,用戶也可編輯出廠設置
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探頭類型可選:內置雙路誤差校正,提高線性度
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報警模式:上下限視聽報警
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快速掃描模式:每秒250個讀數,廣州超聲波測厚儀,當探頭離開時顯示最小值
其他
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鍵盤:12個觸摸鍵
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電源:標配為三節5號堿性電池,可選鎳鎘電池或鋰電池。電量狀態指示。無操作五分鐘后自動關機。USB Type-C供電
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外殼:擠壓鋁機殼,底蓋用鍍鎳鋁板加密封墊封裝
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工作溫度:-10~60℃
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尺寸重量:63.5x165x31.5mm,青島超聲波測厚儀,含電池385g
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包裝:ABS工程塑料箱
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出廠證書:工廠校準可追溯到NIST和MILSTD-45662A標準
雙晶探頭
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型號
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頻率
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探頭晶片直徑
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探頭防磨面直徑
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測量范圍
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說明
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T-102-2900
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5.0MHz
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6.35mm
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9.53mm
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1.0~152mm
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標準CT探頭(可測涂層厚度)
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T-101-2900
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5.0MHz
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4.76mm
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6.35mm
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1.0~50mm
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小管徑CT探頭
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T-102-3300
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7.5MHz
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6.35mm
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9.53mm
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0.63~152mm
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超薄探頭
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T-104-2900
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5.0MHz
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12.7mm
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15.88mm
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1.27~508mm
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超厚CT探頭
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T-042-2000
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5.0MHz
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6.35mm
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9.53mm
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1.0~152mm
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標準高溫探頭,最高340℃
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T-044-2000
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5.0MHz
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12.7mm
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15.88mm
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1.27~508mm
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超厚高溫探頭,最高340℃
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T-212-2001
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5.0MHz
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6.35mm
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9.53mm
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1.0~152mm
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超高溫探頭,最高480℃
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T-214-2001
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5.0MHz
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12.7mm
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15.88mm
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1.27~508mm
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超厚超高溫探頭,超聲波漆膜測厚儀,最高480℃
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注:測試高溫表面時需用高溫耦合劑。
單晶探頭
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探頭型號
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頻率
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描述
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說明
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T-402-5507
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15MHz
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晶片Ø6.35mm
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標準延遲塊探頭
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T-402-6507
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20MHz
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晶片Ø6.35mm
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延遲塊探頭
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T-4903-2875
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5MHz
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晶片Ø3.18mm,防磨面Ø6.35mm
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接觸式探頭
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T-4903-4875
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10MHz
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晶片Ø3.18mm,防磨面Ø6.35mm
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接觸式探頭
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T-4023-2855
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5MHz
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晶片Ø6.35mm,防磨面Ø9.53mm
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接觸式探頭
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T-4023-4855
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10MHz
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晶片Ø6.35mm,上海數字超聲波測厚儀,防磨面Ø9.53mm
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接觸式探頭
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T-481-4507
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10MHz
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延遲塊前端Ø1.59mm
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筆式探頭
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